IEEE设计与测试杂志社在线投稿_SCI期刊

IEEE设计与测试 SCIE

Ieee Design & Test

6-12周审稿时间

4区中科院分区

Q3JCR分区

2.22影响因子

ISSN： 2168-2356

E-ISSN： 2168-2364

国际简称： IEEE DES TEST

出版国家或地区： UNITED STATES

研究方向： COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE - ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

是否预警：否

创刊时间： 2013

H-index： 72

出版周期： 6 issues/year

出版语言： English

年发文量： 54

文章自引率：

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期刊简介

IEEE设计与测试(Ieee Design & Test)是一本由IEEE Computer Society出版的一本COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC学术刊物，主要报道COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC相关领域研究成果与实践。本刊已入选来源期刊，该刊创刊于2013年，出版周期6 issues/year。在2021年12月最新升级版中大类学科分区：工程技术，2021-2022年最新版WOS分区等级：Q3，2021年的影响因子为2.223，CiteScore指数3.30，SJR指数0.597。本刊非开放获取期刊。

IEEE Design & Test 提供描述用于设计和测试微电子系统的模型、方法和工具的原创作品，从设备和电路到完整的片上系统和嵌入式软件。该杂志专注于当前和近期的实践，包括教程、操作方法文章和真实案例研究。该杂志旨在通过其专栏、采访和圆桌讨论，不仅向读者介绍重要的技术进步，还向技术领导者介绍他们的观点。主题包括半导体 IC 设计、半导体知识产权模块、设计、验证和测试技术、制造和良率设计、嵌入式软件和系统、低功耗和节能设计、电子设计自动化工具、实用技术和标准。< /p>

中科院分区信息

IEEE设计与测试2021年12月最新升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区	否	否

IEEE设计与测试2021年12月最新基础版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区 4区	否	否

IEEE设计与测试2020年12月旧的升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	3区	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	3区 3区	否	否

名词解释：

中科院JCR期刊分区（又称分区表、分区数据）是中国科学院文献情报中心世界科学前沿分析中心的科学研究成果。在中科院期刊分区表中，主要参考3年平均IF作为学术影响力，最终每个分区的期刊累积学术影响力是相同的，各区的期刊数量由高到底呈金字塔式分布。

期刊数据统计

1、Cite Score

CiteScore：3.30
SJR：0.597
SNIP：0.962

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q2	321 / 708	54%
大类：Engineering 小类：Hardware and Architecture	Q3	85 / 167	49%
大类：Engineering 小类：Software	Q3	218 / 398	45%

名词解释：

CiteScore：该指标由Elsevier于2016年提出，指期刊发表的单篇文章平均被引用次数。CiteScorer的计算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的计算方法是该期刊在2019年、2020年和2021年发表的文章在2022年获得的被引次数，除以该期刊2019年、2020年和2021发表并收录于Scopus中的文章数量总和。

2、综合数据

OA是否开放：未开放
是否预警：否
影响因子：2.22
Gold OA文章占比：7.10%
研究类文章占比：100.00%
开源占比： --
出版国人文章占比： --
OA被引用占比： --
出版撤稿文章占比： --

3、本刊综合数据对比及走势

文章引用数据

文章名称	引用次数

Edge Intelligence-On the Challenging Roa...
8
ZeNA: Zero-Aware Neural Network Accelera...
7
Context-Aware Intelligence in Resource C...
7
Hierarchical Electric Vehicle Charging A...
7
A Survey on Security Threats and Counter...
6
Survey of Automotive Controller Area Net...
5
Voltage-Driven Building Block for Hardwa...
5
Quantum Computing Circuits and Devices
5
Design-for-Testability of On-Chip Contro...
5
CPU-FPGA Coscheduling for Big Data Appli...
4

期刊被引用数据

期刊名称	引用次数

IEEE ACCESS
57
IEEE T COMPUT AID D
52
IEEE T VLSI SYST
38
INTEGRATION
35
J ELECTRON TEST
29
ACM T DES AUTOMAT EL
25
IEEE T COMPUT
21
IEEE DES TEST
16
IEEE T CIRCUITS-I
15
MICROPROCESS MICROSY
15

期刊引用数据

期刊名称	引用次数

IEEE T COMPUT AID D
27
IEEE J SOLID-ST CIRC
21
NATURE
20
IEEE T VLSI SYST
19
IEEE T CIRCUITS-I
17
PHYS REV LETT
17
IEEE DES TEST
16
NAT COMMUN
16
P IEEE
14
IEEE COMMUN SURV TUT
11

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1、Cite Score

2、综合数据

3、本刊综合数据对比及走势

文章引用数据

期刊被引用数据

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